本文標題："顯微鏡觀察金屬絲網(wǎng)結(jié)構(gòu)特點-金相分析儀器"
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顯微鏡觀察金屬絲網(wǎng)結(jié)構(gòu)特點-金相分析儀器
掃描電子顯微鏡的示意圖.掃描電子顯微鏡中透鏡
系列的作用不是象透射電子顯微鏡那樣用來產(chǎn)生放大，而是用以
減小電子束的直徑，以便當電子束打到試樣上時其直徑僅在200埃
或300埃左右.此外，還必須有一種以光柵方式使電子束在樣品
表面進行掃描的方法，這可以用靜電偏轉(zhuǎn)板或磁線圈來達到.當
電子束轟擊在試樣上時，
存在著取出幾種不同類型
的信號的可能性.某些入射電子將被背散射而沒有明顯的能量損
失，它們可以用PIN表面勢壘二極管來檢測.還會產(chǎn)生低能二次
電子，它們可以用具有幾百伏正偏壓的金屬絲網(wǎng)來收集，然后經(jīng)過
數(shù)千伏高壓電場的加速而打到閃爍晶體上.把閃爍晶體受轟擊時
發(fā)出的光禍合到一個光電倍增管上，光電倍增管的輸出將正比于
收集到的二次電子的數(shù)目.如果被研究的材料具有電子轟擊后會
發(fā)光(陰極射線致發(fā)光)的性質(zhì)，則也可將這樣發(fā)出的光通過一個
導(dǎo)光管或透鏡系統(tǒng)禍合到檢測器中去
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