本文標(biāo)題："細(xì)小的金屬單晶纖維需要電子掃描式顯微鏡才能看見"

發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------ 人瀏覽過-----時間：2013-7-5 17:30:9

錯位是一種晶體之線性瑕疵，也就是眾原子之排列發(fā)生了錯亂。這種錯亂，

使得晶體局部產(chǎn)生扭曲，因而能夠改變那透過金屬薄片之電子束（Electron Beam）

之進(jìn)行方向。所以我們可藉透視電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope）

來觀察呈黑絲狀的錯位。最常見的一種錯位是晶體內(nèi)半個平面之原子“失蹤”。

這種錯位易于敘述和解釋。而這些錯位之易于移動，使得實(shí)際上之晶體變得很“軟弱”──

即在很小的應(yīng)力之作用下，便承不住而變形。

這種情形可舉一日常所見之慣例來解說之，如果地毯鋪得相當(dāng)?shù)钠剑?/div>

則我們要費(fèi)很大的力量才拉得動整個地毯。就如需要極大的應(yīng)力才能使沒有瑕疵的晶體變形

一樣。假使地毯上有道隆起之脊背，當(dāng)我們拉動此地毯時，該脊背能順沿著地毯而移動。

實(shí)際上，我們是在間接地將該脊背移動。自然我們所用之力較拉全平之地毯小得多。

同樣的道理，很小的應(yīng)力便能將晶體內(nèi)之錯位移動而使之變形。

同時也說明了為何那幾乎無瑕疵的晶體其強(qiáng)度幾能達(dá)理論值（例如細(xì)小的金屬單晶纖維）

由上所述，我們可得到一個結(jié)論，金屬強(qiáng)化的方法，便是要防止錯位之存在或是阻撓已存在

著的錯位之移動。值得注意的是，金屬之延性（Ductility）也是由于錯位之移動來決定

。其與強(qiáng)度所不同的是趨勢相反──錯位愈容易移動，

則延性愈高。所以我們常須在強(qiáng)度與延性間作個妥協(xié)，以求得最適用之材料。

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細(xì)小的金屬單晶纖維需要電子掃描式顯微鏡才能看見,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)

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