本文標題："電子顯微鏡(SEM)中的電子PVC技術(shù)-EoS失效分析"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
人瀏覽過-----時間：2017-7-2 23:15:38
電子顯微鏡(SEM)中的電子PVC技術(shù)-EoS失效分析
EoS失效分析——PVC工具
電壓對比技術(shù)可以用來評估與“開路”和“短路”相關(guān)的EOS
失效機制。電壓對比技術(shù)包括無源電壓對比(PVC)和有源電壓對比(
AVC)。
PVC技術(shù)并不會把襯底或管芯連接到電源或信號上。半導(dǎo)體電
路中的PVC失效定位方法是基于對比器件的“暗”或“亮”之間的
差異來確定器件是否接地、反向偏置或是懸空。聚焦離子束、電子
束是用來給物理結(jié)構(gòu)充電，用探測器來對響應(yīng)信號進行成像。輻射
的來源是聚焦離子束(FIB)的離子和掃描電子顯微鏡(SEM)中的電子
。
對于EOS失效分析，PVC可以用來評估短路連接、開路電路、柵
極電介質(zhì)擊穿漏電和合金結(jié)漏電。
EOS失效分析——AVC工具
有源電壓對比(AkiC)技術(shù)可以用來評估與“開路”和“短路”
相關(guān)的EOS失效機制。對f大型結(jié)構(gòu)、鏈路和復(fù)雜互連，無源電壓對
比(PVC)的作用很有限。AVC技術(shù)的一個優(yōu)勢是對比的提升，對較大
的缺陷和復(fù)雜電路的開路、短路或結(jié)構(gòu)缺陷之間的區(qū)別更清晰。
后一篇文章：壓縮氣體的形式是目前最常見的存儲形式 »
前一篇文章：« 土質(zhì)材料混凝土剪切斷面檢測金相顯微鏡
tags:材料學(xué),技術(shù),光學(xué),金相顯微鏡,上海精密儀器,
電子顯微鏡(SEM)中的電子PVC技術(shù)-EoS失效分析,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁地址：/gxnews/4337.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/