本文標題："測涂層內總微孔容積或是平均微孔半徑分析顯微鏡"

發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間：2017-5-14 23:40:6

測涂層內總微孔容積或是平均微孔半徑分析顯微鏡

輻射電子成像法

在傳輸成像中利用電子(或p射線)而不是光子，是因為電子受

涂層的影響比受原紙的影響更強烈。這是因為與碳原子占優勢的紙

張相比較，無機顏料有更高的平均原子量。較重的原子有較密的電

子云，因而與電子束的相互作用更強烈。傳輸電子成像就比傳輸光

成像給予更精確的涂布量分布圖像。

Kubelka—Munk理論

Kubelka—Munk理論可用以推測涂層內部相關顏料堆積效率方

面的信息。有時往往自然地假設顏料散射性是一個內在性能，顏料

混合物的散射性可按其顏料成分的線性組合進行計算。但實際并不

是這樣，因為散射性跟顏料所處環境有十分復雜的關系。形成顏料

混合物并不難，但其所得的堆積密度則可能會比單個組分要好些或

壞些。這就使形成的散射系數低于或高于根據線性綜合計算所預測

的結果。因此如果涂布配料形成低于或高于所需的散射系數，就可

以推斷該涂層比單獨組分有不同的微孔結構。可能不同點或是總

微孔容積或是平均微孔半徑。

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