本文標題："巖石學觀察顯微鏡與顯微樣品的制備"

發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間：2014-1-10 5:55:31

巖石學觀察顯微鏡與顯微樣品的制備

樣品的制備
大多數巖石學者用標準拋光薄片進行陰極發光巖石學觀察。
用于浸注并將樣品固定于載片上的環氧樹脂必須是耐熱的。
特別是用于冷陰極發光顯微鏡的薄片，強電子束會導致一些樹脂
的熱損壞。

因為電子束必須直接轟擊樣品，所以薄片不必加蓋片。
為得到清晰可見的微細結構和礦物成份的照片，薄片必須拋光。
用薄片進行巖石學分析，可以方便地從陰極發光系統轉
換到透射光系統進行結構和礦物成分的觀察和鑒定，
這比僅作單一的陰極發光或單一的透射光的觀察簡易得多。

另外，如果不要求透射光觀察，那么拋光的巖塊就可以
進行陰極發光巖石學觀察.這為在陰極發光下快速制備覽觀察
的樣品提供了便利，而不必費時費錢地制作薄片。并且，因為未
被樹脂浸注過的拋光巖塊較厚且不含樹脂，所以更不易于被電子束損壞。

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